主要用途 主要用于集成电路、半导体元器件、光电子器件、光学器件研制和 生产。由于本机找平机构*,找平力小,使本机不仅适合硅片、玻璃片、陶瓷片的曝光,而且也适合易碎片如砷化钾、磷化铟等基片的曝光。
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主要功能特点
1.曝光类型:正反面对准单面曝光;
2.曝光面积:160×160mm;★
3.曝光照度不均匀性:≤3%;★
4.曝光强度:≥30mw/cm2可调;★
5.紫外光束角:≤3˚;★
6.紫外光中心波长:365nm、404nm、435nm可选:
7.紫外光源寿命:≥2万小时;
8.曝光分辨率:1μm;
9.曝光模式:可选择一次曝光或套刻曝光;
10.显微镜扫描范围:X:±40mm Y:±30mm;★
11.对准范围:X、Y粗调±3mm,细调±0.3mm;Q粗调±15°,细调±3°;★
12.套刻精度:1μm;★
13.分离量;0~50μm可调;★
14.接触-分离漂移:≤1μm;★
15.曝光方式:密着曝光,可实现硬接触、软接触和微力接触曝光;
16.找平方式:三点式自动找平;★
17.显微系统:
1)正面对准采用双视场CCD立式显微镜,总放大倍数45X~300X(物镜放大倍数1.1X~7.5X连续变倍),双物镜可调距离11mm~100mm。扫描范围:X±40mm ,Y±35mm;
2)反面对准采用双视场CCD卧式显微镜:总放大倍数60X、120X两种(物镜放大倍数2X、4X两种),双物镜可调距离22mm~70mm;
3)两种显微镜共用一套计算机图像处理系统;
18.掩模版尺寸:3″×3″、4″×4″、5″×5″、6″×6″、7″×7″;★
19.基片尺寸:φ2、φ3、φ4、φ5、φ6;★
20.基片厚度:≤5 mm;
21.曝光定时:0~999.9秒可调;
22.对准方式:切斯曼对准机构。★
23.曝光头转位:气动;
24. 电源:单相AC220V 50HZ ,功耗≤1KW;
25.洁净空气压力:≥0.4MPa;
26.真空度:-0.07MPa~-0.09MPa;
27.尺寸: 920mm(长)×680mm(宽)×1600mm(高);
28.重量:约180Kg。
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